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生病 3小時內找出病因
2007/06/30~2012/12/31
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更新日期:2006/08/25 13:03:59
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生病 3小時內找出病因 (中時電子報) 日期:2006/08/25 04:09 記者: 李宗祐台北報導
成大研發成功快速疾病偵測晶片系統，有效縮短診斷時間，檢驗費用不到100元。
我國疾病診斷偵測技術重大突破！成大昨發表快速疾病偵測晶片系統，協助醫生將致病菌診斷時間從7天縮短為2到3小時，並同時偵測病菌是否已對抗生素有抗藥性。
成大工程科學系教授李國賓指出，這套快速疾病偵測晶片系統以晶片型聚合酉每連鎖反應系統結合晶片電泳偵測系統研發完成，針對肺炎鏈球菌、Ａ群鏈球菌和登革熱等3種疾病進行臨床檢體偵測，並完成量產技術開發；研究團隊預定11月把相關技術移轉給廠商。
研究團隊計畫2到3年內通過衛生署審查，將晶片系統全面推廣到國內各醫療診所使用。李國賓表示，國內目前每年採樣送檢的肺炎鏈球菌、Ａ群鏈球菌和登革熱等疾病檢體超過15萬例，這套系統全面使用後，可協助醫師快速診斷用藥。
這項系統結合微機電技術與微流體晶片技術，主要應用於疾病菌種病毒快速鑑定，但不限於目前已完成檢測驗證的3種疾病檢體，可有效將檢測時間縮短為2到3小時，每次檢驗費用不到新台幣100元，比健保給付的200元檢驗費還便宜。
其他國家近年來也積極投入微流體晶片系統研究開發，但李國賓表示，國外的重點在於藥物篩選、藥物敏感；我國著重疾病快速檢測，除了肺炎鏈球菌等疾病，研究團隊也曾利用單一晶片同時檢測5種不同上呼吸道疾病和性病病毒，未來計畫進一步應用在B型和C型肝炎，以及愛滋病HIV病毒偵測。
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